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升降温速率可以调节试验箱适用于航空航天产品，通讯产品，信息电子仪器仪表，工业材料，零配件，电子产品，各种电子元器件等物品做应力筛选试验。
升降温速率可以调节试验箱符合标准：
GJB/150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验。
GJB/150.4A-2009 装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验。
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验。
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h + 12h循环）。
GJB/150.9A-2009 装备实验室环境试验方法第9部分：湿热试验。
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温。
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温。
GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验N：温度变化。
GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件；GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件。
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产品&规范 |
厂商名称 |
高温 |
低温 |
温变率 |
循环数 |
循环时间 |
备注 |
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MIL-STD-2164、GJB-1032-90 电子产品应力筛选 |
—— |
工作极限温度 |
工作极限温度 |
5℃/min |
10～12 |
3h20min |
—— |
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MIL-344A-4-16 电子设备环境应力筛选 |
设备或系统 |
71℃ |
-54℃ |
5℃/min |
10 |
—— |
—— |
|
MIL-2164A-19 电子设备环境应力筛选方法 |
—— |
工作极限温度 |
工作极限温度 |
10℃/min |
10 |
—— |
驻留时间为内部达到温度10℃时 |
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NABMAT-9492 美军制造筛选 |
设备或系统 |
55℃ |
-53℃ |
15℃/min |
10 |
—— |
驻留时间为内部达到温度5℃时 |
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GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选指南 |
组件 |
85℃ |
-55℃ |
15℃/min |
≧25 |
—— |
达到温度稳定的时间 |
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GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选指南 |
设备或系统 |
70℃ |
-55℃ |
5℃/min |
≧10 |
—— |
达到温度稳定的时间 |
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笔记本电脑 |
主板厂商 |
85℃ |
-40℃ |
15℃/min |
—— |
—— |
—— |