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连接器冷热冲击试验箱适用于电子电器、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工厂BGA、PCB基板、半导体陶瓷及高分子材料。
连接器冷热冲击试验箱分为分为高温箱常温箱、低温箱三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物通过高温-常温-低温循环移动，以达到冷热冲击测试目的。
符合标准：
GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
GB/T10589- 1989低温试验箱技术条件
GB/T 2423.2-2001高温
GB/T 2423.1-2001低温
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2- 1:2007)低温试验方法Ab
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法Bb
GJB150.4-1986低温试验
GJB150.3-1986高温试验
JIS C60068-2-2-1995试验B:干热
JIS C60068-2-1-1995试验A:低
JIS C60068-2-1-1995试验A:低温
JESD22-A103-C-2004高温储存试验
JESD22-A119-2004低温储存试验
JESD22-A119-2004低温储存试验
MIL-STD-810F-501.4高温
MIL-STD883C方法1004.2
MIL-STD810方法507.2 程序3
MIL-STD-810F-502.4低温
IEC68-2-01_试验方法A冷
GB/T2423.1-2001低温试验方法;
GB/T2423.22- 1989温度变化试验N;
GJB150.3-86;
GJB150.4- 86;
GJB150.5- -86;
GJB150.5-86温度神击试验;
GJB360.7-87温度冲击试验;
GJB367.2-87 405温度冲击试验;
SJ/T101 87-91Y73系列温度变化试验箱一-箱式;
SJ/T101 86-91Y73系列温度变化试验箱一二箱式;
满足标准IEC68-2-14试验方法N温度变化;
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;
GB/T 2423.22-2002温度变化;
QC/T17-92汽车零部件耐候性试验-般规则;
EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。
IEC68-2-02_试验方法B_ _干热
IEC68-2-01_试验方法A冷
IEC68-2-02_试验方法B _干热