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湿热老化试验用试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元器件，在高温、低温湿热环境下的各项性能指标的检验。是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件中止耐寒、耐热、耐干性实验及品管工程的可靠性测试设备,特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温循环实验。
湿热老化试验用试验箱的规格参数:
型号可选：LQ-TH-80/100/150/225/408/800/1000（ABCD）。
内箱尺寸可选(mm)宽*高*深 W*H*D ：400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm。
温度范围可选:A：0℃～150℃/B：-20℃～150℃/；C：-40℃～150℃/；D：-70℃～150℃/（可任意调节）。
湿度范围:20%~98%RH（行业标准型）。
升降温速率：
RT<----->150℃ 约35分钟（非线性空载，约3.0℃/分钟）。
RT<----->-20℃ 约45分钟（非线性空载，约1.0℃/分钟）。
解析精度： 0.01℃。
控制精度：≤±0.5℃。
均匀度：≦2.0℃。
电源功率：AC1￠3W 220V 50/60HZ或AC3￠5W380V 50/60HZ，功率电流视型号规格而定。