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单组份硅橡胶冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA. PCB基扳、电子芯片IC,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。
特点：
两箱式冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA. PCB基扳、电子芯片IC. 半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。
单组份硅橡胶冷热冲击试验箱的性能参数参考如下：
一、低温冲击可选择温度范围：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（厂家还免费配高温至150度）。
二、温度偏差：±2℃。
三、温度波动度：±0.5℃。
四、温度恢复时间：≤5min。
五、温度恢复条件：高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。
六、温度冲击转移方式：采用气动驱动。
七、高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。
八、低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。
九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音：（dB）≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音）
十、型号 内箱尺寸（mm) 外箱尺寸（mm） 功率（kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0