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芯片测试高低温冲击试验箱满足的试验方法有：SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；GB/T2423.22-1989温度变化试验；GB/T2423.1-1989低温试验方法；GB/T2423.2-1989高温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB150.5-86温度冲击试验；IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；GJB367.2-87 405温度冲击试验；GB/T 2423.22-2002温度变化；GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。
冷热冲击试验箱厂家柳沁科技所有试验设备严格按照设备对应的标准、行业标准制造各类环境试验设备，实现的质量，中国化的价格。柳沁拥有一个从境试验设备研发的科研机构，具备成熟的环境试验设备研制手段与试验室，聚集了行业内一批优秀的各类人才和专家，强大的研发团队引领着国内环试技术发展方向．具有同行业的设计手段，合理的工艺布局，先进的制造技术，严格的质量保证体系，采用国外品牌的数控加工柔性生产线，保证为每个购买柳沁冷热冲击试验箱的顾客提供可靠的质量保证。
芯片测试高低温冲击试验箱的性能参数参考如下：
一、低温冲击可选择温度范围：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（厂家还免费配高温至150度）。
二、温度偏差：±2℃。
三、温度波动度：±0.5℃。
四、温度恢复时间：≤5min。
五、温度恢复条件：高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。
六、温度冲击转移方式：采用气动驱动。
七、高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。
八、低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。
九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音：（dB）≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音）
十、型号 内箱尺寸（mm) 外箱尺寸（mm） 功率（kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0